निर्माता भाग संख्या : | 8V182512IDGGREP |
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RoHs स्थिति : | लीड फ्री / आरओएचएस के अनुरूप |
निर्माता / ब्रांड : | Luminary Micro / Texas Instruments |
स्टॉक की स्थिति : | 2101 pcs Stock |
विवरण : | IC ABT SCAN TEST DEV3.3V 64TSSOP |
भेजने का स्थान : | हॉगकॉग |
डाटा शीट : | |
शिपमेंट मार्ग : | DHL/Fedex/TNT/UPS/EMS |
भाग संख्या | 8V182512IDGGREP |
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उत्पादक | |
विवरण | IC ABT SCAN TEST DEV3.3V 64TSSOP |
लीड फ्री स्टेटस / आरओएचएस स्टेटस | लीड फ्री / आरओएचएस के अनुरूप |
उपलब्ध मात्रा | 2101 pcs |
डाटा शीट | |
वोल्टेज आपूर्ति | 2.7 V ~ 3.6 V |
प्रदायक डिवाइस पैकेज | 64-TSSOP |
शृंखला | - |
पैकेजिंग | Tape & Reel (TR) |
पैकेज / प्रकरण | 64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width) |
दुसरे नाम | 296-22075-2 V62/04730-01XE |
परिचालन तापमान | -40°C ~ 85°C |
बिट्स की संख्या | 18 |
माउन्टिंग का प्रकार | Surface Mount |
नमी संवेदनशीलता स्तर (एमएसएल) | 1 (Unlimited) |
निर्माता मानक लीड टाइम | 42 Weeks |
तर्क के प्रकार | ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers |
लीड फ्री स्टेटस / आरओएचएस स्थिति | Lead free / RoHS Compliant |
विस्तृत विवरण | ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers IC 64-TSSOP |
आधार भाग संख्या | 74LVTH182512 |
IC REGISTERED BUFFER 160-TFBGA
IC TXRX NON-INVERT 3.6V 48SSOP
IC BUFFER 1.8V 25BIT SOT536-1
IC RECEIVER/DRVR ECL DIFF 8SOIC
IC ABT SCAN TEST DEV 3.3V 64LQFP
IC ABT SCAN TEST DEV 3.3V 64LQFP
IC DRIVER QUAD DIFF PECL 16-SOIC
IC TXRX 8BIT TTL/BTL 52-QFP
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
IC BUFFER 1.8V 25BIT SOT536